РАЗМЕЩЕНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ БИС НА БСК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ГЛУБОКОГО ОБУЧЕНИЯ С ПОДКРЕПЛЕНИЕМ

Резюме: В статье рассматриваются аспекты физического (топологического) проектирования микросхем, где основные операции – размещение ячеек на поле базового матричного кристалла и их трассировка. В статье представлен краткий анализ главных недостатков основных методик размещения элементов на поле базового матричного кристалла. В настоящее время в России возрастает внимание к модификации и совершенствованию отечественных систем автоматизированного проектирования. В связи с этим выбрано наиболее перспективное направление для дальнейших исследований, а так же сформулированы основные цели и задачи.

Ключевые слова: большие интегральные схемы, размещение, системы автоматизированного проектирования, графовые нейронные сети, глубокое обучение с подкреплением, параллельные вычисления.

I.O. Gaiduk, A.V. Mozhzhukhina

PLACEMENT OF LSI ELEMENTS ON BSK USING DEEP REINFORCEMENT LEARNING

Summary: The article aspects of physical (topological) design of microcircuits, where the main operations are placing cells on the field of the base matrix crystal and their routing. The article presents a brief analysis of some dis-advantages of the main techniques for placing elements on the field of the base matrix crystal. At present, in Russia, attention is increasing to the modification and improvement of domestic computer-aided design systems. In this regard, the most promising direction for further research was selected, as well as the main goals and objectives were formulated.

Keywords: large integrated circuits, placement, electronic design automation, graph neural networks, deep reinforcement learning, parallel computing.

DOI: 10.34219/2078-8320-2025-16-1-129-133